Mapping系列光谱椭偏仪采用行业前沿创新技术，配置全自动Mapping测量模块。通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现薄膜全基片膜厚以及光学参数自定义绘制化测量表征分析

1、全基片椭偏绘制化测量解决方案

2、支持产品设计以及功能模块定制化，一键绘制测量

3、配置Mapping模块，全基片自定义多点定位测量能力

4、丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力