SE-VE采用光谱椭偏测量技术紧凑集成化设计思路，一键快速测量分析，极致便捷用户操作体验，可用于各种微纳米级光学薄膜快速测量表征。

1、紧凑集成化设计，轻便、体积小

2、超快测量时间，单点测量时间0.5-5s

3、软件简约设计，极致用户操作体验

4、一键快速测量分析，人机交互设计，使用便捷

5、丰富的材料数据库和算法模型库