ME-L采用专利消色差双旋转补偿器设计，一次测量全穆勒矩阵元素，代表椭偏技术领域最高技术水平，可用于各向同性/异性薄膜、纳米光栅的快速测量表征。

1、分析光谱宽,可扩至193-2500nm

2、超快测量时间，单点测量时间1-8s

3、超高测量精度，重复性精度高达0.005nm

4、五维样件调制旋台，并支持自定义多功能样件台

5、配置可视化调平+微光斑系统，支持消背反测量能力