蔡司Xradia CrystalCT作为首款实现无损衍射衬度断层扫描（DCT）成像功能的微米CT系统，能同时获得样品的三维晶体学信息和基于吸收衬度的高分辨率三维成像数据，可为工业和科研实验室实现各种金属和合金、增材制造、陶瓷和药物样品等多晶材料的三维晶体学成像提供解决方案。

通过最新的高级数据采集模式，Xradia CrystalCT可实现大样品体区域的无缝数据采集，提高了采集速度和减少了样品准备时间。与传统的破坏性三维晶体学成像方法相比，大体积的无损晶粒成像大幅提高了实验数据体的代表性。