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NO:K26
ADD: 北京市海淀区双清路1号院内长兴楼2层205室
WWW: http://www.peakscience.cn
专利的纳米探针制作技术,探针间距可小于500nm, 能对微纳器件和薄膜的电学参数进行精密测试。并可与光学显微镜和SEM兼容进行测试。
多种规格的阵列纳米探针可选。
集成XYZ精密调节台。
可集成源表及软件进行表面电阻,CV,IV测试。
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