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北京培科创新技术有限公司是一家专注于科学研究及工业应用的仪器渠道商和系统解决方案提供商，我们为高校、科研院所、企业等各类客户提供全面的仪器设备解决方案。
培科创新，与多家世界知名仪器制造商建立了良好的战略合作关系，不断优化提升的公司自身营运和服务质量，致力于向用户提供国际一流的产品、最优化的解决方案和高品质的专业服务.
培科创新，秉承高度负责和诚信的原则展开业务，努力营造公司和客户之间互相尊重、坦诚沟通、高效互动的健康环境。我们了解客户的实际需求，并提供合理优质的解决方案。培科在客户的关注和员工们的努力中不断进步，拥有遍布全国的营销渠道和服务网络、职业化的技术服务团队。
专利的纳米探针制作技术，探针间距可小于500nm, 能对微纳器件和薄膜的电学参数进行精密测试。并可与光学显微镜和SEM兼容进行测试。
多种规格的阵列纳米探针可选。
集成XYZ精密调节台。
可集成源表及软件进行表面电阻，CV，IV测试。
共聚焦显微设计，具有衍射极限的空间分辨率；
模块化设计，兼容多种测试方法；
TRPL时间分辨光致发光荧光寿命成像FLIM分析；
Raman分析功能；
AFM分析模块功能。
uber G670第一次以Guinier几何结构，提供了一种现代图像板检测方法（image plate）。使用简单，可以在几分钟内获得所需的数据。实际分辨率0.005度。可以配置超低温，高温，高压，气氛保护，毛细管等多种样品环境。
CT-Nano是第一款商业化的SEM-CT联用系统，适用SEM可以进行0.7纳米的表面形貌分析及其他SEM表征。同一系统能进行实际空间分辨率达60nm的CT三维重构分析。是材料科学研究的又一得力工具。
JCM-7000台式扫描电子显微镜是日本电子新推出的一款台式扫描电子显微镜，其不仅具有大型扫描电镜的功能，相对于大型扫描电镜其操作简单，维护保养容易，体积小巧，价格低廉，检测速度快，从启动装填样品到测试出结果仅需5分钟左右。JCM-7000还创新的加入了实时能谱分析和实时3D显示的功能，更人性化的服务于您的研究和工作。
Robo-Met.3D 三维微结构分析测试系统，是美国UES公司和美国空军实验室联合设计开发的系统。为材料分析领域提供了一种高精度和全自动的三维微结构重构分析平台。可广泛应用到各种材料领域快速获得3D微结构数据和分析。
自动抛磨重构层数：最大可至200层；
分辨率：光学显微镜200纳米，SEM 3nm。
高光谱成像是将成像技术和光谱分析技术的结合，将以前常用的单点光谱分析技术拓展至空间的多点成像.
EOS高光谱系统既可以实现宏观大范围成像，也可以实现微区分析成像。具有成像质量高，无鬼影，光谱分辨率高，波段范围宽等特点
