光学原子力显微镜一体机 FM-Nanoview Op-AFM
光学显微镜和原子力显微镜一体式设计,光电控制一体化;
同时具备光学和原子力显微镜成像功能,两者可同时扫描成像,互不影响;
同时具备光学二维测量和原子力显微镜三维测量功能;
采用了垂直光路设计,配合气液两用型探针架可同时在空气或液体中使用;
利用了高倍光学定位系统,实现探针和样品扫描区域精确定位;
简易的激光光斑调节方式,可通过光学CCD窗口实时观测及调节光斑;
单轴驱动样品自动垂直接近探针,准确定位扫描区域,使针尖垂直于样品扫描;
马达控制加压电陶瓷自动探测的智能进针方式,保护探针及样品;
需配备气浮式防震台(选购),抗干扰能力强,不影响仪器使用操作;
集成扫描器硬件非线性校正用户编辑器,纳米表征和测量精度优于98%。