纳米X射线显微镜-SEM扫描电子显微镜联用系统-北京培科创新技术有限公司

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展位号：K26

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纳米X射线显微镜-SEM扫描电子显微镜联用系统

CT-Nano是第一款商业化的SEM-CT联用系统，适用SEM可以进行0.7纳米的表面形貌分析及其他SEM表征。同一系统能进行实际空间分辨率达60nm的CT三维重构分析。是材料科学研究的又一得力工具。