美国easyXAFS公司最新推出台式X射线吸收精细结构谱仪（XAFS/XES），采用独有的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，提供XAFS和XES两种测量模式，并轻松相互切换。以极高的灵敏度和光源质量，广泛应用在催化、电池等研究领域，实现对元素的测定、定量和价态分析等。

XAFS/XES 产品优势：

无需同步辐射光源；科研级别谱图效果；

台式设计，实验室内使用；

可外接仪器设备，控制样品条件；

可实现多个样品或多种条件测试；

操作便捷、维护成本低。

塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点，塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。

ZEM-3拥有温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器；测量是由计算机控制的，并且能够在指定的温度下执行测量，并允许自动测量消除背底电动势；欧姆接触自动检测功能；可以用独创的适配器来测量薄膜；可定制高阻型。

ZEM-3应用方向：对于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的热电性能分析。

ZEM-3可选功能：1. 薄膜测量选件；2.低温选件（温度范围-100℃到200℃）；3.高阻选件（最高到10MΩ）。

美国Quantum Design公司近期隆重推出最新产品-完全无液氦综合物性测量系统PPMS® DynaCool™。它是继多功能振动样品磁强计VersaLab（3T，50K-400K）之后，Quantum Design公司推出的第二款完全无需液氦等任何制冷剂的测量系统。 

PPMS DynaCool在功能上仍然是一台PPMS系统，具有以往PPMS系统的所有测量功能。然而由于其杜瓦内部的重新优化设计，使得PPMS DynaCool系统完全不需要液氦等任何制冷剂，系统使用一个二级脉冲管制冷机同时为超导磁体和样品测量提供超低振动的低温环境。并且系统主机就已经集成了产生<10-4Torr高真空的冷泵，从而使PPMS DynaCool能与所有相关选件升级兼容。

应用领域:

磁学、热学、电学测量(包括但不限于交直流电阻率、磁电阻、微分电阻、霍尔系数、伏安特性、临界电流、交流磁化率、磁滞回线、热磁曲线、比热、热电效应、塞贝克系数、热导率、膨胀系数和形貌表征等）。